Diffractométrie de rayon X (DRX)
La diffractométrie de rayons X (DRX) est une technique d'analyse fondée sur la diffraction des rayons X par la matière, particulièrement quand celle-ci est cristalline.
Cette méthode utilise un faisceau de rayons X qui, rencontrant un cristal, est renvoyé dans des directions spécifiques déterminées par la longueur d'onde des rayons X et par les dimensions et l'orientation du réseau cristallin. Par la mesure des angles et de l'intensité des rayons diffractés, il est possible d'obtenir de nombreuses informations sur la structure cristalline des cristaux et ainsi de les identifier. Des bases de données existes, référençant la position des pics pour les espèces minérales déjà étudiées. En se référant à ces bases de données, on peut alors définir les minéraux présents dans l'échantillon étudié.
Les 30 échantillons ont été réduits en poudre afin d'être analysés en DRX. L'étude des lames minces a mis en évidence la forte présence de quartz et de feldsapths potassique quelque soit la provenance de l'échantillon. Les résultats de la DRX vont dans ce sens avec la présence des pics caractéristiques de ces espèces présents pour chaque échantillon.
On observe des pics aux angles les plus bas seulement pour les échantillons provenant de l’atelier Tudelle et de l’enceinte antique. Ces pics ne sont pas présents pour les échantillons de Saran. L’interprétation de ces pics reste difficile, mais ils pourraient correspondre à la présence de muscovite ou d’illite. Cela pourrait être un indice pour différencier les productions de Saran de celles de Tudelle.
Source : wikipedia
Appareil utilisé : Panalytical X’Pert Pro MPD® en géométrie Bragg-Brentano. Les mesures sont effectuées en réflexion en utilisant la longueur d’onde du cuivre (λ Kα1 = 1,54056 Å) ainsi qu’un monochromateur en graphite. Le porte échantillon effectue un tour complet toutes les 16 secondes et la plage angulaire de mesure va de 3° à 60° (en 2θ) en 1h51 avec un pas de 0,0167°.